Deska pro testování jádra HWHS se 6 vrstvami Uniwell Circuits

Deska pro testování jádra HWHS se 6 vrstvami Uniwell Circuits

Materiál:IT968G 10G:Dk3.7/Df0.0050 ZTRÁTA:0.32dB/inch Tolerance rozměru:+/-2mil Tolerance otvoru:+/-1mil
Odeslat dotaz

Shenzhen Uniwell Circuits Co., Ltd. je jedním z předních výrobců a dodavatelů 6vrstvé testovací desky HWHS jádra Uniwell Circuits v Číně, také podporuje přizpůsobené služby s nízkou cenou. Pokud se chystáte koupit vysoce kvalitní 6vrstvou testovací desku HWHS jádra Uniwell Circuits, uvítáme nabídku z naší továrny.

 

Základní testovací deska HWHS se 6 vrstvami je více-vrstvý produkt PCB uvedený na trh společností Uniwell Circuits pro vysoce přesné testovací scénáře-. Má základní charakteristiky vysoké rovinnosti, vysoké hustoty drátu a vysoké integrity signálu a je vhodný pro náročné testovací prostředí.

 

Popis produktu

Materiál

IT968G

10G

3,7 Dk/Df0,0050

ZTRÁTA

0,32 dB/palec

Tolerance k demenci

+/-2mil

Tolerance otvoru

+/-1mil

Základní vlastnosti produktu

 

Záruka přesnosti procesu: spoléhá se na technologii vysoce{0}}přesného zpracování, minimální šířka čáry/rozteč čar může dosáhnout 3/3 mil, podporuje proces laserového vrtání mikrootvorů, s minimální aperturou 0,1 mm, vynikající přesnost zarovnání mezi vrstvami, účinně zabraňuje nesouososti mezi vrstvami, interferenci signálu a dalším problémům.
Spolehlivý výkon: Deformace desky je řízena na extrémně nízké úrovni pomocí technologie vakuového lepení v kombinaci s bezolovnatou -technologií ochrany životního prostředí v souladu s certifikačními normami RoHS a UL a může odolat cyklování při vysokých teplotách a dlouhodobém-testování stárnutí, což zajišťuje stabilní a bezchybný testovací proces.
Speciální konstrukční provedení: Povrch desky je uspořádán s hustými testovacími podložkami a zlatými prsty, aby byly splněny požadavky na testování kontaktu sondy. Výškový rozdíl ploch BGA podložek je řízen ve velmi malém rozsahu, aby byl zajištěn stabilní kontakt sondy během testování.

Hlavní oblasti použití

 

Testování polovodičových čipů: může být použito v procesu testování plátků ke screeningu elektrických parametrů plátkových zrn před balením čipů, čímž se zabrání neefektivním nákladům na balení; Může být také použit jako testovací zátěžová deska hotového výrobku k dokončení funkčního ověření zabaleného IC, což potvrzuje, že rychlost čipu, spotřeba energie, integrita signálu a další indikátory splňují specifikace návrhu.

 

product-337-174


Testování stárnutí s vysokou spolehlivostí: Vhodné pro scénáře testování stárnutí při vysokých{0}}teplotách a vysokém{1}}tlaku čipů automobilové a průmyslové třídy, urychluje odhalení problémů s časným selháním čipu a výrazně zlepšuje dlouhodobou-provozní spolehlivost produktu.
Špičková podpora elektronických polí: Lze ji také rozšířit na komunikační základnové stanice, průmyslové řízení, lékařskou elektroniku, letecký a kosmický průmysl a další obory, které vyžadují přísný výkon PCB, a poskytuje stabilní hardwarovou podporu pro výzkum a vývoj testování vysoce-elektronických zařízení.

Populární Tagy: Uniwell Circuits 6layers HWHS základní testovací deska, Čína, dodavatelé, výrobci, továrna, levné, přizpůsobené, nízká cena, vysoká kvalita, nabídka